86-755-82197394
86-755-25537817(传真)
检测标准
已通过CNAS认可的检测标准及方法
| 序号 | 标准 | 名称 |
|---|---|---|
| 1 | GJB 360B-2009 | 电子及电气元件试验方法 |
| 2 | GJB 548B-2005 | 微电子器件试验方法与程序 |
| 3 | GJB 128A-1997 | 半导体分立器件试验方法 |
| 4 | GB/T 14028-2018 | 半导体集成电路模拟开关测试方法 |
| 5 | GB/T 17574-1998 | 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 |
| 6 | GB/T 17940-2000 | 半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路 |
| 7 | GB/T 4586-1994 | 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 |
| 8 | GB/T 4587-1994 | 半导体分立器件和集成电路第7部分_ 双极型晶体管 |
| 9 | GB/T 6571-1995 | 半导体器件分立器件第3部分-信号（包括开关）和调整二极管 |
| 10 | GB/T 14030-92 | 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 |
| 11 | GB/T 6798-1996 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 |
| 12 | GB/T 4377-2018 | 半导体集成电路 电压调整器测试方法 |
| 13 | GJB 733B-2011 | 有失效率等级的非固体电解质钽固定电容器通用规范 |
| 14 | GJB 468A-2011 | 1类瓷介固定电容器通用规范标准 |
| 15 | GJB 63C-2015 | 有可靠性指标的固体电解质钽电容器总规范 |
| 16 | GJB 9147-2017 | 半导体集成电路运算放大器测试方法 |
| 17 | SJ 20646-1997 | 混合集成电路DC/DC变换器测试方法 |
| 18 | SJ/T 10805-2018 | 半导体集成电路 电压比较器测试方法 |
| 19 | GJB 150.3A-2009 | 军用装备实验室环境试验方法 高温试验 |
| 20 | GJB 150.4A-2009 | 军用装备实验室环境试验方法 低温试验 |
| 21 | GJB 3516-99 | 铝电解电容器总规范 |
| 22 | GJB 603A-2011 | 有失效率等级的铝电解电容器通用规范 |
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