爱德万V93000
泰瑞达J750HD
Chroma 3380P
华峰 STS8200
长川三温分选机CT6800
热流仪TS-780
86-755-82197394
86-755-25537817(传真)
检测能力
4000
实验室面积(m²)
252个+
检测项目
309项+
检测标准和检测方法
100台+
专业检测设备
| 序号 | 检测项目 | 序号 | 检测项目 |
| 1 | 外观检查 | 11 | 介质耐电压 |
| 2 | 三温测试(常温/低温/高温) | 12 | 恒定加速度 |
| 3 | 温度循环 | 13 | PIND |
| 4 | 温度冲击 | 14 | 扫频振动 |
| 5 | 热冲击 | 15 | 气性检查 (粗细捡漏) |
| 6 | 稳定性烘焙 | 16 | 恒定加速度 |
| 7 | 高温老炼 | 17 | 插入力和分离力 |
| 8 | 高温反偏 | 18 | 嵌入力和卸出力 |
| 9 | 稳态工作寿命 | 19 | X-Ray |
| 10 | 内部潮湿 | ...... | ...... |
业务介绍
集成电路电参数测试能力
超大规模规模数字电路
存储器
AD/DA
爱德万V93000
泰瑞达J750HD
Chroma 3380P
华峰 STS8200
长川三温分选机CT6800
热流仪TS-780
集成电路电参数测试能力
中大规模数字电路
电源模块测试系统
大规模教字集成电路测试系统JC-6166/JC-3162A
混合模拟电路测试系统STS8205PLOS
模拟电路STS8207S
电源模块测试系统9000
大规模数字集成电路测试系统JC-6166
大规模数字失成电路测试系统JC-3162A
模拟电路STS8207S
电源模块测试系统9000
混合模拟电路测试系统STS8205PLUS
分立器件及阻容感测试能力
二极管
三极管
IGBT
稳压二极管
电容
电阻
电感
分立器件测试系统
精密阻抗分析仪
LCR电桥低阻仪
分立器件测试系统
精密阻抗分析仪
老化试验能力
超大规模集成电路高温动态老化试验
集成电路高温老化试验
分立器件综合老化试验
电容高温老化试验
电源模块高温老化试验
高温反偏试验
三端稳压器老化试验
大功率晶体管老化试验
二极管恒流老化系统
超大规模集成电路高温动态老化系统
集成电路高温老化系统
分立器件综合老化系统
电源模块高温老化系统
大功率晶体管老化试验
三端稳压器老化试验
环境可靠性试验能力
高加速应力试验HAST
温度循环TC
温湿度试验THB
3D X-ray
超声扫描
推拉力测试
温湿度试验ESPEC GPL-3
温度循环
温湿度试验ESPEC GPL-3
3D X-Ray检测仪
推拉力测试仪
超声扫描Sonoscan D9650
力学可靠性试验能力
扫频/随机振动(5Hz～3kHz/100g)
机械冲击(10000g/0.3～2ms)
恒定加速度离心试验（40000g)
颗粒碰撞噪声测试PIND
气密性测试
扫频/随机振动
机械冲击
恒定加速度离心试验
颗粒碰撞噪声测试仪
氦质谱检漏仪
功率器件试验能力
高温反偏HTRB
高温栅偏HTGB
功率循环测试PC
间歇寿命试验IOL
高温高湿反偏H3TRB
高温栅偏HTGB
高温高湿反偏H3TRB
高温栅偏HTRB
功率循环PC1800A
间歇寿命IOL2000
元器件分选和鉴别服务
外观
丝印
看标
Emspira3显微镜
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